Documentation FERMI

Ion beam analysis of surfaces and interfaces of condensed matter systems / P. Chakraborty (2003)

Titre :	Ion beam analysis of surfaces and interfaces of condensed matter systems
Type de document :	texte imprimé
Auteurs :	P. Chakraborty, Éditeur scientifique
Editeur :	New York : Nova science
Année de publication :	2003
Importance :	X, 445 P.
Présentation :	Relie. Couv. en coul., graph.
Format :	24 cm
ISBN/ISSN/EAN :	978-1-59033-538-3
Langues :	Anglais (eng)
Catégories :	(76.00) Physique du solide experimentale
Mots-clés :	ion beams condensed matter ion scatteringrutherford backscattering spectroscopy semiconductors sputtering atom molecule and ion impact
Index. décimale :	76.00

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
PQ002123	76.00.55	texte imprimé	Bibli FERMI 3R4	Recherche	Disponible

Documentation FERMI
Université Toulouse III Paul Sabatier
118 route de Narbonne
Bâtiment 3R4
31062 Toulouse cedex

Vous n'avez pas accès à un article, un livre ou vous souhaitez proposer l'achat d'un document ?
Nous contacter
Tel : 05 61 55 65 02 / 65 05