1 recherche sur le mot-clé 'ion scatteringrutherford backscattering spectroscopy'   

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Ion beam analysis of surfaces and interfaces of condensed matter systems / P. Chakraborty (2003)

Titre : Ion beam analysis of surfaces and interfaces of condensed matter systems Type de document : texte imprimé Auteurs : P. Chakraborty, Éditeur scientifique Editeur : New York : Nova science Année de publication : 2003 Importance : X, 445 P. Présentation : Relie. Couv. en coul., graph. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-1-59033-538-3 Langues : Anglais (eng) Catégories : (76.00) Physique du solide experimentale Mots-clés : ion beams  condensed matter  ion scatteringrutherford backscattering spectroscopy  semiconductors  sputtering atom molecule and ion impact Index. décimale : 76.00

Exemplaires (1)

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
PQ002123	76.00.55	texte imprimé	Bibli FERMI 3R4	Recherche	Disponible