1 recherche sur le mot-clé 'ion scatteringrutherford backscattering spectroscopy'

      Affiner la recherche  Générer le flux rss de la recherche    Partager le résultat de cette recherche    Faire une suggestion

Ion beam analysis of surfaces and interfaces of condensed matter systems / Purushottam Chakraborty (2003)

Titre : Ion beam analysis of surfaces and interfaces of condensed matter systems Type de document : texte imprimé Auteurs : Purushottam Chakraborty, Éditeur scientifique Editeur : New York : Nova science Année de publication : 2003 Importance : X, 445 P. Présentation : Relie. Couv. en coul., graph. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-1-59033-538-3 Langues : Anglais (eng) Catégories : (76.00) Physique du solide experimentale Mots-clés : ion beams  condensed matter  ion scatteringrutherford backscattering spectroscopy  semiconductors  sputtering atom molecule and ion impact Index. décimale : 76.00

Exemplaires(1)

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
PQ002123	76.00.CHA	texte imprimé	Bibli FERMI 3R4	Recherche	Disponible