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'electron microscopy'
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Titre : The quantum world unveiled by electron waves Type de document : texte imprimé Auteurs : Akira Tonomura, Auteur Editeur : Singapore : World scientific publishing Année de publication : 1998 Importance : IX-161 P. Présentation : relie. Coul. en ill. coul., fig., graph. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-981-02-2510-0 Langues : Anglais (eng) Catégories : (41.00) Electromagnetisme et optique electronique Mots-clés : forces electron holography electron beams electron microscopy aharonov-bohm effect superconductors Index. décimale : 41.00 Résumé : chap 1. magnetic lines of force chap 2. what are waves ? chap 3. interfering electrons chap 4. electron holography chap 5. coherent electron beams developped ! chap 6. wave-particle duality chap 7. interference electron microscopy chap 8. magnetic lines of force in the microscopy world chap 9. the aharonov-bohm effect chap 10. vector potentials, real or not ? chap 11. quantum world in superconductors Exemplaires(1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité PQ001751 41.00.100 texte imprimé Bibli FERMI 3R1 RDC Recherche Disponible
Titre : The electron microscope Type de document : texte imprimé Auteurs : M.E. Haine, Auteur Editeur : London : E. & F.N. Spon Année de publication : 1961 Importance : XVI-282 P. Présentation : Relie. Couv. en coul., graph., ill. Format : 22 cm Langues : Anglais (eng) Catégories : 06.00 Metrology, measurements, and laboratory procedures Mots-clés : electron microscopy electronic optics electron gas electron microscopes Index. décimale : 06.00 Exemplaires(1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité PT002134 06.00.32 texte imprimé Bibli FERMI 3R1 RDC Recherche Disponible
Titre : Traite de microscopie electronique. tome I Type de document : texte imprimé Auteurs : C. Magnan, Directeur de publication Editeur : Paris : Hermann Année de publication : 1961 Importance : 649 P. Présentation : Relie. Graph., Ill Format : 24 cm Langues : Français (fre) Catégories : 06.00 Metrology, measurements, and laboratory procedures Mots-clés : electron optics electron microscopy crystallographymetallographic microscopy Index. décimale : 06.00 Exemplaires(1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité PT001385 06.00.24 texte imprimé Bibli FERMI 3R1 RDC Recherche Disponible
Titre : Traite de microscopie electronique. tome II Type de document : texte imprimé Auteurs : C. Magnan, Directeur de publication Editeur : Paris : Hermann Année de publication : 1961 Importance : P.651-1283 Présentation : Relie. Graph., Ill Format : 24 cm Langues : Français (fre) Catégories : 06.00 Metrology, measurements, and laboratory procedures Mots-clés : electron optics electron microscopy crystallographymetallographic microscopy Index. décimale : 06.00 Exemplaires(1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité PT001386 06.00.24 texte imprimé Bibli FERMI 3R1 RDC Recherche Disponible
Titre : Spectroscopy, Diffraction and Tomography in Art and Heritage Science Type de document : texte imprimé Auteurs : Mieke Adriaens, Éditeur scientifique ; Mark Dowsett, Éditeur scientifique Editeur : Amsterdam : Elsevier Année de publication : 2021 Importance : XIV-391 P. Présentation : Broche, couv. illus en coul. : fig., graph., illus. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-0-12-818860-6 Langues : Anglais (eng) Catégories : CEMES Mots-clés : Spectroscopy Infrared spectra Electron microscopy Optical tomography Index. décimale : CEMES Résumé : 1 Introduction: Origins and Fundamentals. - 2 Raman and infrared spectroscopy. - 3 Spectroscopy and diffraction using the electron microscope. - 4 UV – visible and near IR reflectance spectroscopy. - 5 X-Ray and Neutron Tomagraphies. - 6 X-ray diffraction. - 7 Laser induced breakdown spectroscopy. - 8 Neutron Diffraction. - 9 Laboratory and synchrotron X-ray spectroscopy. - 10 Ion beam analysis . - 11 High energy particle analysis Exemplaires(1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité PQ004318 FERMI - CEMES texte imprimé Bibli FERMI - CEMES Equipe labo Voir Labo
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