Titre : |
Underneath the Bragg peaks : structural analysis of complex materials |
Type de document : |
texte imprimé |
Auteurs : |
Takeshi Egami, Auteur ; Simon J.L. Billinge, Auteur |
Mention d'édition : |
2nd Ed. |
Editeur : |
Amsterdam : Elsevier |
Année de publication : |
2012 |
Importance : |
xxi-481 p. |
Présentation : |
Relie, couv. illus. en coul : Fig., Graph. |
Format : |
24 cm |
ISBN/ISSN/EAN : |
978-0-08-097133-9 |
Langues : |
Anglais (eng) |
Catégories : |
(61.00) Structure (non-electronique) des solides et de liquides crystallographie
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Mots-clés : |
Bragg reflectors Crystallography |
Index. décimale : |
61.00 |
Résumé : |
1 Structure of Complex Materials. - 2 Crystallographic Analysis of Complex Materials. - 3 The Method of Total Scattering and Atomic Pair Distribution Function Analysis. - 4 Total Scattering Experiments. - 5 Data Collection Analysis. - 6 Extracting Structural Information from the PDF. - 7 Dynamics of the Local Structure. - 8 Local Structure of Well-Ordered Crystals and Systems with Competing Interactions. - 9 Defects in Crystals and Crystallographically Challenged Materials. - 10 Nanoparticles and Clusters. - Local Packing in Molecular Materials. - 12 Structure of Amorphous Materials |