1 recherche sur le mot-clé 'Scanning electron microscopy'   

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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy / C. Julian Chen (2021)

Titre : Introduction to Scanning Tunneling Microscopy Type de document : texte imprimé Auteurs : C. Julian Chen, Auteur Mention d'édition : 3rd Ed. Editeur : Oxford : Oxford University Press Année de publication : 2021 Collection : Monographs on the Physics and Chemistry of Materials Importance : XXXVII-452 P. Présentation : Relie : Fig., Graph. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-0-19-885655-9 Langues : Anglais (eng) Catégories : (68.00) Structure non-electronique et proprietes electroniques des surfaces Mots-clés : Scanning tunneling microscopes  Atomic force microscopy  Metal insulator metal structures  Chemical bonds  Piezoelectricity  Scanning electron microscopy  Vibration isolation  Elasticity Index. décimale : 68.00 Résumé : Part 1: Principles. - Part 2: Instrumentation. - Part 3: Related Methods

Exemplaires (1)

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
PQ004237	68.00.CHE	texte imprimé	Bibli FERMI 3R4	Recherche	Disponible