| Titre : |
Spectroscopy, Diffraction and Tomography in Art and Heritage Science |
| Type de document : |
texte imprimé |
| Auteurs : |
Mieke Adriaens, Éditeur scientifique ; Mark Dowsett, Éditeur scientifique |
| Editeur : |
Amsterdam : Elsevier |
| Année de publication : |
2021 |
| Importance : |
XIV-391 P. |
| Présentation : |
Broche, couv. illus en coul. : fig., graph., illus. |
| Format : |
24 cm |
| ISBN/ISSN/EAN : |
978-0-12-818860-6 |
| Langues : |
Anglais (eng) |
| Catégories : |
CEMES
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| Mots-clés : |
Spectroscopy Infrared spectra Electron microscopy Optical tomography |
| Index. décimale : |
CEMES |
| Résumé : |
1 Introduction: Origins and Fundamentals. - 2 Raman and infrared spectroscopy. - 3 Spectroscopy and diffraction using the electron microscope. - 4 UV – visible and near IR reflectance spectroscopy. - 5 X-Ray and Neutron Tomagraphies. - 6 X-ray diffraction. - 7 Laser induced breakdown spectroscopy. - 8 Neutron Diffraction. - 9 Laboratory and synchrotron X-ray spectroscopy. - 10 Ion beam analysis . - 11 High energy particle analysis |
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