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Auteur Tien T. Tsong |
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Titre : Atom-probe field ion microscopy : field ion emission, and surfaces and interfaces atomic resolution Type de document : texte imprimé Auteurs : Tien T. Tsong, Auteur Editeur : Cambridge : Cambridge University Press Année de publication : 1990 Importance : X-387 P. Présentation : Broché. Couv.en coul., graph. Format : 23 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-0-521-01993-4 Langues : Anglais (eng) Catégories : (36.00) Agregats et systemes etendus Mots-clés : Clusters Ions atomic Index. décimale : 36.00 Résumé : 1 Introduction - 2 Field ion emission - 3 Instrumentations and techniques - 4 Applications to surface science - 5 Selected topics in applications Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité PT004502 36.00.TSO texte imprimé Bibli FERMI 3R4 Recherche Disponible