Surface and Interface Analysis / Seong H. Kim (2025)

Titre : Surface and Interface Analysis : Principles and Applications Type de document : texte imprimé Auteurs : Seong H. Kim, Auteur Editeur : Weinheim : WILEY-VCH Année de publication : 2025 Importance : 416 P. Présentation : Broche. Couv. ill. en coul., graph. Format : 28 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-1-394-21834-9 Langues : Anglais (eng) Catégories : (76.00) Physique du solide experimentale Mots-clés : Surfaces  Chemical analysis  Electron spectroscopy  Mass spectrometry SIMS  Electromagnetic waves Index. décimale : 76.00 Résumé : 1 Introduction. - 2 Elemental Analysis via X-ray Irradiation. - 3 Elemental Analysis via Electron Irradiation. - 4 Elemental Analysis via Ion Irradiation. - 5 Light Propagation, Absorption, and Reflection. - 6 Spectroscopic Analysis via IR Reflection and Transmission. - 7 Buried Interface Analysis via Nonlinear Spectroscopy. - 8 Multivariate Data Analysis. - 9 Thin Film Analysis via Reflectometry and Ellipsometry. - 10 Topography Analysis via Light Reflection. - 11 Topography Analysis via Scanning Probe. - 12 Mechanical Analysis via Indentation

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Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
PQ004730	76.00.KIM	texte imprimé	Bibli FERMI 3R4	Recherche	Disponible

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